Tóm tắt

Trong điều tra địa chất tìm kiếm khoáng sản, công tác phân tích các mẫu địa chất là không thể thiếu được. Với sự phát triển của khoa học, phương pháp phân tích huỳnh quang tia X trên thiết bị XRF cầm tay ra đời và được đưa vào ứng dụng đã đánh dấu một ứng dụng mới trong công tác nghiên cứu điều tra địa chất về khoáng sản. So sánh kết quả phân tích của các mẫu bìn đáy giữa phương pháp ICP truyền thống, các mẫu hóa quặng với phương pháp phân tích huỳnh quang tia X trên thiết bị cầm tay XRF bước đầu đã xác định được các nguyên tố có trong mẫu đất; dải hàm lượng các nguyên tố xác định được từ 10 ppm đến 10%; sai số phân tích ± 20%. Kết quả cho thấy thiết bị XRF cầm tay đáp ứng tốt để sử dụng phân tích các mẫu địa hóa đất, trầm tích, bùn đáy tại văn phòng thực địa.